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極高分辨率的掃描電子顯微鏡

Magellan XHR SEM 系列掃描電子顯微鏡 (SEM)讓科學***和工程師迅速看到以前無法視及的微觀世界： 高靈敏的表面圖像、以及俯視或從其它角度觀看圖像，分辨率可達到***納米以下。 這款電鏡上的***些重要突破在于它鏡筒上采用了革命性的單色槍技術,它使顯微學***可完美地把高空間分辨率和超淺入射電子束結合在***起。 Magellan XHR SEM 系列掃描電子顯微鏡 (SEM) 在不受樣品大小限制的條件下,既擴展了傳統納米尺度掃描電子顯微鏡的成像和分析范圍與能力，同時又具備相當于傳統掃描電子顯微鏡 (SEM) 的速度和易用性。
亞納米分辨率、1 kV - 30 kV 加速電壓、無與倫比的穩定性和高達 20 nA 的電子電流
? 創新的電子光學，包括 FEI 的 單色UniColore (UC) 專利技術（使能散小于 0.2 eV）
? 使用單個工具進行材料和缺陷分析，實現高生產量和“快速應答”
? 表面靈敏高分辨率成像，低至 50 V 的著陸能量
? 高精密、高穩定樣品臺，可在大分析室內進行 100 x 100 mm 樣品完整表面的 超高分辨成像
? 樣品尺寸、形狀、成分、制備不會互相制約
? 包括分析和原型制造的多樣應用性
? 簡單易學、易用