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通用型、研究***AFM，具有馬達驅動光學臺
    XE-100 是Park Systems的旗艦***AFM。作為是***款價格適中的AFM系統，它為小樣品的非接觸式的納米尺度測量提供了終極解決方案，應用領域涵蓋：數據存儲、半導體、材料科學、 聚合物、電化學及其他納米科學和工程方面的應用。
? 支持所有XE 系列模式和選配項
? 上至 100 μm × 100 μm XY 掃描范圍
? 上至 25 μm Z掃描范圍
? 馬達驅動光學臺
? 提供***大的用戶方便性

最大樣品尺寸：直徑100mm
最大樣品厚度：20mm
最大樣品重量：500克
XY掃描范圍：100μm
Z掃描范圍：25μm
XY樣品臺移動范圍：25mm (馬達驅動)
Z方面移動范圍：20mm（馬達驅動）
反饋速度：500kHz
最大像素：4096
ADC bit：16bit
ADC速度：500kHz
DAC bit：16bit
DAC速度：500kHz
DAC噪聲：40mV/150V
ADC bit(懸臂梁)：16bit
ADC速度(懸臂梁)：500kHz
DAC bit(懸臂梁)：16bit
DAC速度(懸臂梁)：500kHz

Park Systems公司擁有20多年原子力顯微鏡生產技術積累，是從事該行業歷史***長的公司。XE系列原子力顯微鏡是Park Systems公司多年研究的成果。在原子力產品中傾注了多年的Know-How技術，生產出了具有前所未有的測量學性能的真正的下***代原子力顯微鏡。它徹底解決了基于壓電陶瓷管的AFM產生的非線性和非正交所帶來的問題。
    Park Systems無論在科研還是在工業領域都是納米尺度測量及系統的技術***。公司的產品線反映了在納米測量應用方面的強大實力。
    公司以全面的產品、軟件、服務和專***幫助用戶獲取所需的測量性能，可以滿足現在和未來的需求。