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BATOP太赫茲時域光譜儀THz-TDS1008

THz-TDS背景知識

基于超快激光的THz脈沖產(chǎn)生與探測技術(shù)發(fā)展起來的太赫茲時域光譜儀（Terahertz time domain spectroscopy, THz-TDS）技術(shù)，是本世紀80年代***先由AT&T貝爾實驗室（AT&T Bell Laboratories）和IBM公司的T.J.Waston研究中心（IBM Thomas J. Watson Research Center）提出的。BATOP太赫茲時域光譜儀THz-TDS技術(shù)屬于電磁輻射位相相干探測技術(shù)，是通過對THz脈沖不同時刻的電場強度進行位相相關(guān)的取樣測量，獲得THz脈沖電場的時域波形。再對THz時域波形進行傅立葉變換，獲得THz脈沖電場頻譜和位相信息。因此，太赫茲時域光譜儀THz-TDS可以同時直接探測被研究對象擾動的THz波電場振幅和相位雙重信息。 

TDS10XX產(chǎn)品特點：

內(nèi)置樣品倉，可充氮氣進行透反射測量

規(guī)格多樣的外置光纖耦合光電導天線可選

外置角度掃描裝置可選

外置成像模塊可選

T3DS軟件支持

TDS10XX各型號參數(shù)規(guī)格：