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掃描電子顯微鏡（SEM）
FEI Apreo 場發射掃描電子顯微鏡
價 格：詢價
產 地：更新時間：2021-01-18 15:01
品 牌：型 號：Apreo
狀 態：正常點擊量：1555
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Apreo 復合透鏡設計結合了靜電和磁浸沒技術，可產生前所未有的高分辨率和信號選擇。這使得 Apreo 成為研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺，并且不會降低磁性樣品性能。
Apreo 受益于獨特的透鏡內背散射探測，這種探測提供卓越的材料對比度，即使在傾斜、工作距離很短或用于敏感樣品時也不例外。新型復合透鏡通過能量過濾進***步提高了對比度并增加了用于絕緣樣品成像的電荷過濾。可選低真空模式，現在的zui大樣品倉壓力為 500 Pa，可以對要求zui嚴苛的絕緣體進行成像。
通過這些優勢（包括復合末***透鏡、高***探測和靈活樣品處理），Apreo 可提供出色的性能和多功能性，幫助您應對未來的研究難題。
滬公網安備31011502016460號
