掃描電化學顯微系統（SECM）
交流掃描電化學顯微鏡系統（ac-SECM）
間歇接觸掃描電化學顯微鏡系統（ic-SECM）
微區電化學阻抗測試系統(LEIS)
掃描振動點擊測試系統（SVET）
電解液微滴掃描系統（SDS）
交流電解液微滴掃描系統（ac-SDS）
掃描開爾文探針測試系統（SKP）
非觸式微區形貌測試系統（OSP）
出色的性能
快速***的閉環定位系統為電化學掃描探針納米***研究的需求而特別設計。結合Uniscan 獨特的混合型32-bit DAC技術，用戶可以選擇合適實驗研究的zui佳配置
和靈活的工作平臺
系統可提供9種探針技術，使得M470成為全球zui靈活的電化學掃描灘鎮工作平臺。
全面的附件
7種模塊可選，3種不同電解池，各式探針，長距顯微鏡以及后處理數據分析軟件。
M470微區掃描電化學工作站新產品特征
SECM自動處理曲線
SECM用戶自定義處理曲線步長變化
高分辨率讀取
手動或自動調節相位
M470同時具備如下特點：
傾斜校正
X或Y曲線相減（5階多項式）
2D或3D快速傅里葉變化
實驗，探針移動和區域繪圖的自動排序
圖形實驗測序引擎（GESE）
支持多區域掃描
所有實驗多個數據視圖
峰值分析
M470微區掃描電化學工作站是由Uniscan儀器開發的第四代掃描探針系統，具有更高規格和更多探針技術。
M470技術參數
工作站（所有技術）
掃描范圍（x,y,z） 大于105nm
掃描驅動分辨率 zui高0.1nm
閉環定位 線性零滯后編碼器，直接實時讀出x,z和y位移
軸分辨率（x,y,z） 20nm
zui大掃描速度 12.5mm/s
測量分辨率 32-bit解碼器@高達40MHz
壓電（ic-和ac-掃描探針技術）
振動范圍 20nm~ 2μm峰與峰之間1nm增量
zui小振動分辨率 0.12nm(16-bit DAC,4μm)
壓電晶體伸展 100μm
定位分辨率 0.09nm(20-bit DAC ,100μm)
機電
掃描前端 500×420×675mm(H×W×D)
掃描控制單元 275×450×400mm(H×W×D)
功率 250W
滬公網安備31011502016460號
