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掃描透射電子顯微鏡（STEM）
場發射透射電子顯微鏡
價 格：詢價
產 地：更新時間：2021-01-18 15:14
品 牌：型 號：JEM-2100F
狀 態：正常點擊量：1965
400-006-7520
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JEM-2100F 應用廣泛，從材料科學、生命科學、醫療、制藥、半導體到納米技術。
利用200kV場發射透射電鏡JEM-2100F，不僅可實現超高分辨率圖像的觀察，同時，還可以得到納米尺度的結構、成分等信息。
高亮度的場發射電子槍，輕松實現各種分析功能。
JEM-2100F*新設計的側插式側角臺，在傾斜、旋轉、加熱、制冷時都不會造成機械飄移。
SJEM-2100F可與TEM, MDS, EDS, EELS, and CCD-camera實現***體化控制。
注：該儀器未取得中華人民共和***醫療器械注冊證，不可用于臨床診斷或治療等相關用途
滬公網安備31011502016460號
