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商品編號(hào)：90079

芯片級(jí)測(cè)試鎢鋼探針

價(jià) 格：詢(xún)價(jià)

產(chǎn) 地：更新時(shí)間：2021-05-13 14:11

品牌：其他型號(hào)：ST/T-4

狀態(tài)：正常點(diǎn)擊量：2751

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直流測(cè)試探針，針對(duì)不同應(yīng)用有軟針和硬針，針尖直徑有：0.2/1/2/5/10/20微米幾種規(guī)格，長(zhǎng)度38mm和51mm，材質(zhì)有鎢/鈹銅等材質(zhì)。

ST 系列硬針是0.020 inch (0.51mm) 直徑鎢材質(zhì)針桿經(jīng)過(guò)精密電化學(xué)加工成為不同的針尖直徑，長(zhǎng)度為1.5inch(38.1mm)的探針。這種探針應(yīng)用與絕大多數(shù)的芯片電極點(diǎn)測(cè)和線路點(diǎn)測(cè)。

ST系列硬針可以用于與刮擦或者刺穿芯片表面鈍化層。該探針可以選擇表面鍍鎳，如果選擇鍍鎳則型號(hào)后面增加“NP”。

ST系列硬針可耐電壓：1000V、電流1A

ST系列硬針可耐電壓：1000V、電流1A
型號(hào)	針桿直徑	針尖直徑
ST-20-0.5	0.020" (0.51mm)	<1 微米
ST-20-1.0	0.020" (0.51mm)	<2.0微米
ST-20-2.0	0.020" (0.51mm)	<4.0微米
ST-20-5.0	0.020" (0.51mm)	<10.0微米
ST-20-10.0	0.020" (0.51mm)	<20.0微米

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芯片級(jí)測(cè)試鎢鋼探針

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