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殘余應(yīng)力測(cè)量?jī)x PA-Micro

   PA系列是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應(yīng)力測(cè)量?jī)x，PA系列測(cè)量雙折射測(cè)量范圍達(dá)0-130nm，可以測(cè)量的樣品范圍從幾個(gè)毫米到近500毫米。PA系列雙折射測(cè)量?jī)x以其專利技術(shù)的光子晶體偏光陣列片，獨(dú)有的雙折射算法設(shè)計(jì)制造，得到每片樣品僅需幾秒鐘的測(cè)量能力，使其成為業(yè)內(nèi)，特別是工業(yè)界雙折射測(cè)量/應(yīng)力測(cè)量的選擇。

主要特點(diǎn)：

• 操作簡(jiǎn)單，測(cè)量速度可以快到3秒。

• 視野范圍內(nèi)可***次測(cè)量，測(cè)量范圍廣。
  

• 更直觀的全面讀取數(shù)據(jù)，無(wú)遺漏數(shù)據(jù)點(diǎn)。
  

• 具有多種分析功能和測(cè)量結(jié)果的比較。
  

• 維護(hù)簡(jiǎn)單，不含旋轉(zhuǎn)光學(xué)濾片的機(jī)構(gòu)。
  

• 高達(dá)2056x2464像素的偏振相機(jī)。

應(yīng)用領(lǐng)域：

• 通信光纖

• 晶體
  

• 
  

技術(shù)參數(shù)：